系統(tǒng)概述
       WHOI APD測試系統(tǒng)是我公司完全自主研發(fā)而成，搭載我司研發(fā)的手動耦光平臺以及APD芯片測試板，實現(xiàn)了雪崩光電二極管芯片的擊穿電壓、暗電流、正向電壓、響應(yīng)度、倍增因子、量子效率以及無光、有光狀態(tài)下對APD芯片進(jìn)行I-V曲線的自動測試和合格判定。
該測試系統(tǒng)準(zhǔn)確性高、測試速度快、軟件操作方便，顯示結(jié)果直觀，可實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)的自動存儲，方便進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，以及隨時查看APD的I-V曲線

系統(tǒng)特點

1. 測試多樣化：設(shè)計研發(fā)多種測試板，可對多種類型APD芯片進(jìn)行測試，例如：

• 大光敏面InGaAs APD，3pin TO46器件
• 蓋革 InGaAs APD，3pin TO46器件以及帶尾纖器件
• 10G InGaAs APD+TIA，5pin TO46器件以及帶尾纖器件，差分輸出
• 蓋革 InGaAs APD + TEC，6pin TO8器件以及帶尾纖器件

2. 測試速度快：0~35V，0.1V步進(jìn)，有光和無光I-V曲線測試用時30S；
3. 精準(zhǔn)測試：在TCE精準(zhǔn)控溫下進(jìn)行APD芯片I-V快速測試；
4. 自動存儲：I-V曲線測試時，實時存儲測試數(shù)據(jù)；
5. 雙I-V曲線：繪制有光和無光電流曲線，進(jìn)行雙曲線顯示；
6. 報表保存：多次測試數(shù)據(jù)以Excel報表形式保存，便于后期數(shù)據(jù)分析；
7. 歷史查詢：可以查找已完成測試芯片的歷史I-V曲線

系統(tǒng)構(gòu)成
WHOI APD測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖下圖1所示：
 
圖1 WHOI-APD測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖
表1 系統(tǒng)組成單元

序號	系統(tǒng)單元	附件
1	WHOI-GY-001 光源
2	WHOI-GGL-002光功率計	WHOI-GGL-W01 RS232通訊線
3	WHOI-GS-003 光衰減器	WHOI-GS-W01 RS232通訊線
4	WHOI-GF-004 光分路器	WHOI-GF-W01光纖跳線
5	WHOI-YB-005 V-I源表	WHOI-YB-D01GPIB數(shù)據(jù)采集卡+ WHOI-YB-W02三軸同軸線纜
6	WHOI-DY-006 VCC電源	WHOI-DY-W01 USB通訊線+ WHOI-DY-W02電信號線
7	WHOI-TEC-007 溫度控制器	WHOI-TEC-W01 DB25線纜+ WHOI-TEC-W02 數(shù)據(jù)采集線
8	WHOI-OGT-008 耦光平臺
9	WHOI-CSB-009 APD測試板	WHOI-3PIN+WHOI-5PIN+WHOI-6PIN
10	WHOI-PBZ-010 遮光屏蔽罩	WHOI-PBZ-W01電信號線
11	WHOI-ZJ-011 主機(jī)	（鍵盤、顯示器、鼠標(biāo)）

 


 
 















軟件界面

圖2 單點測試界面

圖3 I-V測試界面

圖4 繪制曲線界面

定制方案
我們可以根據(jù)您的需求，為您定制所需的APD芯片測試板以及不同測試方案；針對性的優(yōu)化測試系統(tǒng)，也可實現(xiàn)全自動化測試。